Linea di produzione di ossido di silicio
01. Zona di miscelazione degli ingredienti
02. Partizione dello schermo
03. Zona di sinterizzazione ad alta temperatura
04. Area di rimozione delle impurità
02. Partizione dello schermo
03. Zona di sinterizzazione ad alta temperatura
04. Area di rimozione delle impurità
05. Area difficile
06. Zona di frantumazione e classificazione
07. Zona demagnetizzazione
08. Area imballaggio
06. Zona di frantumazione e classificazione
07. Zona demagnetizzazione
08. Area imballaggio
Panoramica della soluzione
Il materiale dell'elettrodo negativo a base di silicio precursore dell'ossido di silicio (SiO) è un importante ramo degli elettrodi negativi a base di silicio che combina capacità e stabilità. La sua logica fondamentale è quella di utilizzare l'espansione del volume (circa il 200%) di SiO (capacità specifica teorica ~ 1500mAh / g, circa 4 volte quella della grafite), che è inferiore a quella del silicio puro (300%). Il SiO viene utilizzato come precursore del composito con materiali di carbonio e risolve ulteriormente la contraddizione del "ciclo basso di espansione ad alta capacità" dei materiali a base di silicio attraverso l'effetto tamponamento e la regolazione strutturale della matrice di carbonio. Rispetto al carbonio di nanosilicio, il suo vantaggio risiede nella minore difficoltà di preparazione della materia prima e nel controllo più facile dell'espansione del volume. La linea di produzione è progettata intorno alla "preparazione/purificazione della stabilizzazione della struttura di modifica del composito di ossido di silicio".
-
3
ppm
Sostanza magnetica: ≥ -
33.5
%
Contenuto di ossigeno: ≥ -
99
%
Purezza: ≥
Parametri
| Nome del Parametro | Requisiti di Livello Batteria | Metodo di Test |
|---|---|---|
| Superficie specifica | 1–5 m²/g | Metodo di adsorbimento di azoto BET (GB/T 19587) |
| Densità compattata (Tapped Density) | 0,8–1,2 g/cm³ | Analizzatore di densità compattata (Tapped Density Analyzer) (GB/T 5162) |
| Distribuzione delle dimensioni delle particelle (D50) | 3–15 µm | Analizzatore delle dimensioni delle particelle a laser (ISO 13320) |
| Valore x di SiOₓ (indice di ossidazione del silicio) | 0,8 < x < 1,2 | XPS (Spettroscopia Fotoelettronica a Raggi X) |
| Strato di rivestimento di carbonio | 5–20% in peso (wt%) | TGA (Termogravimetria Analitica) |
| Contenuto di ossigeno (wt%) | ≈33,5% | Analisi elementare |
| Contenuto di umidità | ≤300 ppm | Metodo di Karl Fischer (GB/T 6283) |
| Corpo estraneo magnetico | ≤50 ppb | ICP-MS (Spettrometria di Massa a Ioni Secondari Indotta da Plasma) |
| Capacità specifica di scarica iniziale | 1200–1600 mAh/g | Cabinet di test per batterie |
| Efficienza iniziale | 70–85% | Cabinet di test per batterie |
| Vita utile in cicli | ≥500 cicli | Cabinet di test per batterie |
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